TY - GEN AU - Brune, H AU - Ernst, H AU - Grunwald, A AU - Grunwald, W AU - Hofmann, H AU - Janich, P AU - Krug, H AU - Mayor, M AU - Rathgeber, W AU - Schmid, G AU - Simon, U AU - Vogel, V AU - Wyrwa, D TI - Nanotechnology: assessment and perspectives SN - 354032819X PY - 2006/// CY - New York PB - Springer KW - Electronic KW - ENGINEERING KW - NANOTECHNOLOGY ER -